基本信息 设备编号：20111704

中文名称 原子力显微镜

英文名称 Atomic force microscope, AFM

设备型号 D3100

主要性能、功能

扫描范围：90μm＊90μm

最深台阶：<10μm

分辨率：横向0.2 nm，垂直0.03 nm

设备由机械运动部分、悬臂偏转信号光学检测系统、控制信号反馈系统，成像和信息处理软件系统四个部分组成。利用光学检测法或隧道电流检测法，从原子水平测量多种生物材料的表面形貌和电磁性能，反映生物细胞与材料表面的微观结构。