基本信息 设备编号：20111704

中文名称 透射电子显微镜

英文名称 Transmission electron microscope

设备型号 JEOL JEM-2100

主要性能、功能

分辨率：点分辨率0.23 nm，线分辨率0.14 nm

相差：球差系数1.0 mm，色差系数1.4 mm

放大倍数：150万倍

具有多种加速电压，能够进行明场像、暗场像和高分辨像观察、选区电子衍射结构分析，可应用于生物材料与非生物学的检测分析，广泛用于生物、医疗、制药、环境、纳米材料等领域。